Halbleiter-IC-Test Pogo Pin Tower

Prüfung von Halbleiter-ICs Pogo Pin Tower

Halbleiter-IC-Testing Pogo Pin Tower kombiniert mit Testing Pogo Pin Connector und Pogo Pins.

Prüfung von Halbleiter-ICs Pogo Pin Tower

Voll kompatibel mit bestehenden Sondentürmen: 360/900 / 1.080 / 1.320 / 1.620 / 2.070 Pins. Ein 18-Pin-Modul mit 90 Signalpins pro Einzelmodul und ein 10-Pin-Modul mit 45 Signalpins pro Einzelmodul.

Anwendungsfläche: 224 Quadratzentimeter und 114 Quadratzentimeter

Halbleiter-IC-Tests Pogo-Pin-Tower: Erweiterung des Anwendungsraums, Pin-Modul-Design, frei konfigurierbarer Raum, Verschiedene Pogo-Pin-Modullösungen können je nach Kundenwunsch bereitgestellt werden - konfigurierbare 800 bis 4.800 Pins.

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Zertifizierung der Kontaktwiderstandsmessung, um eine hervorragende Leistung zu gewährleisten. Debugging-Tools, Tool zum Testen der Position des Sondenturms, Tool zur Überprüfung der Knotenposition.

Prüfung von Halbleiter-ICs Pogo Pin Tower

Der modulare Aufbau macht den Pogo-Pin und den Federblock einfach zu erweitern und auszutauschen und einfach zu warten. Kompatibel mit allen herkömmlichen PIB-Boards und Standard-Probe-Stationen. Kostengünstigere, fortschrittlichere und innovativere Schnittstellenlösungen Mit Abdeckung für einen Tieftemperaturtest.

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Die Präzisionsprüfspitze ist eine Prüfspitze, die ein unverzichtbarer Bestandteil des Prozesses der elektrischen Präzisionsprüfung ist. Bei der Entwicklung von R&D und der Herstellung elektronischer Schaltungen ist es oft erforderlich, die Kontinuität und Qualität des Signals zu testen und zu analysieren. Zu diesem Zeitpunkt ist es erforderlich, mit einer Präzisionsprüfspitze das Signal verlustfrei herauszunehmen und dem entsprechenden ICT oder Testsystem zur integrierten Analyse zur Verfügung zu stellen.

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Entsprechend den Anwendungsgebieten der Prüfspitzen werden Prüfspitzen in konventionelle ICT-Prüfspitzen, Halbleiterprüfspitzen, HF-Hochfrequenzprüfspitzen, Hochstromprüfspitzen und Batteriekontaktstifte unterteilt. Es kann auch in konventionelle einseitige Pogo-Pins, doppelendige BGA-Testnadeln und doppelendige Nadelhülsenadapter-Nadeln unterteilt werden.

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In der frühen Phase der Sondenauswahl sind mehrere Parameter zu berücksichtigen, die der Abstand der Prüfsonde, die Auswahl des geeigneten Kopftyps des zu prüfenden Objekts, die von der Prüfung getragene Stromstärke, der Hub der Prüfbewegung , und die zu wählende elastische Kraft usw.

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